加速實驗 最常用就是 燒機測試，在 70~80度環境下，全速測試，高溫是半導元件的罩門，潛在的品質不良，大都會在高溫環淨下掛掉。
統計是為了預測無法預測的事件所設計，僅供參考，也是僅有較可靠的參考，

用出生的嬰兒的比喻完全不恰當，人一出生時是最弱的，機器的話，大家都知道要新品，

較有名的例子是，某汽車廠聲稱其製程達到6個sigma (百萬分之一的不良率)，
故障第一次，算你運氣不好，籤王(百萬分之一的中獎者)
壞第二項時，你就是萬王之王，( 百萬分之一的平方 )，沒有任一車廠的出貨達到這個量。